- 品名： SGW? X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
- 型號： SGW? X-4B
- 產(chǎn)品詳情
- 規(guī)格參數(shù)
測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定。儀器采用顯微鏡觀察方法，既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
SGW? X-4A、SGW? X-4B帶有防風(fēng)罩，減少了環(huán)境對測試結(jié)果的影響。
儀器型號 | SGW? X-4B |
測量范圍 | 室溫~320 ℃ |
測量方法 | 目視 |
測量模式 | 毛細(xì)管法、熱臺法 |
小示值 | 0.1℃ |
重復(fù)性 | ≤200℃±1℃，＞200±2℃ |
觀察方式 | 雙目體視顯微鏡 |
放大鏡倍數(shù) | 40×-100×變倍 |
電源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
儀器尺寸 | 269×160×435mm |
儀器凈重 | 4.kg |
【熔點(diǎn)儀，顯微熱分析儀易耗品選購】
毛細(xì)管：90mm適用于WRS系列儀器、120mm適用于WRR系列儀器。 |
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)：奈、乙二酸、蒽醌等。 |
載玻片/蓋波片：適用儀器WRX-2S、SGW? X-4系列 |
代辦服務(wù)：提供儀器校驗(yàn)、3Q認(rèn)證。 |
